2026-01-16 2025 반도체 경진대회 우수상 수상 본문 발표 제목: Si/Ge 기반 반도체 소자의 전기적 특성을 예측하기 위한 Strain field 분석 및 Convolution Neural Network 기반 객체 검출 목록 이전글반도체 패키지 신뢰성 분석용 Moire Interferometry Optical Setup 26.01.27 댓글 0 댓글목록 등록된 댓글이 없습니다.
