청주대학교 클린룸 공정-측정-분석이 한 공간에서 가능한 반도체 클린룸. 포토/박막/에칭 공정 및 클린 환경 측정 시스템을 갖추고, TFT..

반도체 패키지 신뢰성 분석용 Moire Interferometry Optical Setup He-Ne 레이저 기반 간섭계로 샘플 변위를 고해상도로 측정하여 반도체 패키지 열변형을 정량화

2025 반도체 경진대회 우수상 수상 발표 제목: Si/Ge 기반 반도체 소자의 전기적 특성을 예측하기 위한 Strain field 분석 및 Convolutio..